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Colorimetro CM-2500C
Il colorimetro CM-2500C adotta un metodo di illuminazione ottica 45/0 basato sulla struttura degli altri due spettrofotometri CM-2500d e CM-2600d di K
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Il colorimetro CM-2500C adotta un metodo di illuminazione ottica 45/0 basato sulla struttura degli altri due spettrofotometri CM-2500d e CM-2600d di Konica Minolta e mantiene la sua precisione di misura originale, alta precisione, forte stabilità e portabilità.

La struttura ottica geometrica 45/0 del colorimetro CM-2500C è più strettamente correlata alla percezione visiva del colore dell'oggetto misurato ed è particolarmente adatta per la misurazione del colore di materiali quali componenti di decorazione interna automobilistica, abbigliamento, plastica, rivestimenti, imballaggio esterno e altri materiali non lavorati;

Le caratteristiche del colorimetro CM-2500C sono:
1. uno spettrofotometro portatile con una struttura ottica geometrica 45/0 semplice e leggera porterà maggiore stabilità alle vostre misurazioni;
2. Il sistema ottico 45/0 di * * - sotto l'azione congiunta di integrazione della sfera e della fessura di illuminazione, forma una sorgente luminosa a forma di anello, rendendo la luce di illuminazione più uniforme. Pertanto, questa struttura ottica geometrica 45/0 è più ideale in termini di formazione della luce rispetto ai sistemi ordinari; La lente parallela aggiuntiva può fornire un fascio di illuminazione più parallelo e uniforme nell'area di illuminazione, rendendo anche il fascio riflesso ugualmente uniforme; L'ampia area di misura del campione consente un contatto più stretto e stabile tra lo strumento e il campione, garantendo una misurazione più accurata e conveniente dei campioni con superfici curve, come componenti interni automobilistici o campioni più morbidi;
3. i vantaggi del nuovo sistema ottico - alta uniformità della distribuzione della luce di illuminazione; Area di illuminazione circolare superiore; illuminazione circolare; miglioramento della ripetibilità dei dati di misura; Riduzione dell'impatto dei cambiamenti nella posizione di misura, nella superficie sferica del campione o nell'angolo di misura del campione sui dati di misura;

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